Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM - R.F. Egerton - 書籍 - Springer International Publishing AG - 9783319819860 - 2018年5月30日
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R.F. Egerton
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM Softcover reprint of the original 2nd ed. 2016 edition

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Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.

196 pages, 15 Illustrations, color; 109 Illustrations, black and white; XI, 196 p. 124 illus., 15 il

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2018年5月30日
ISBN13 9783319819860
出版社 Springer International Publishing AG
ページ数 196
寸法 234 × 156 × 16 mm   ·   334 g
言語 ドイツ語  
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