X-Ray Structure Analysis - Theo Siegrist - 書籍 - De Gruyter - 9783110610703 - 2021年11月22日
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Theo Siegrist
X-Ray Structure Analysis

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This book offers a compact overview on crystallography, symmetry, and applications of symmetry concepts. The author explains the theory behind scattering and diffraction of electromagnetic radiation. X-ray diffraction on single crystals as well as quantitative evaluation of powder patterns are discussed. The book also introduces applications of group theory and tensor properties of crystals.

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2021年11月22日
ISBN13 9783110610703
出版社 De Gruyter
ページ数 250
寸法 170 × 240 × 13 mm   ·   498 g
言語 英語  

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