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CMOS Plasma and Process Damage Kirk Prall
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CMOS Plasma and Process Damage
Kirk Prall
Readers will learn how plasma and process damage results from the high-energy processes that are used in chip manufacturing, causing harm to the chips, functional failure and reliability problems.
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2025年5月17日 |
| ISBN13 | 9783031890284 |
| 出版社 | Springer International Publishing AG |
| ページ数 | 466 |
| 寸法 | 150 × 220 × 20 mm · 891 g |
| 言語 | ドイツ語 |