Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques - Behnam Ghavami - 書籍 - Springer Nature Switzerland AG - 9783030516123 - 2021年10月14日
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Behnam Ghavami
Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques 2021 edition

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Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.

114 pages, 50 Tables, color; 9 Illustrations, color; 30 Illustrations, black and white; XIII, 114 p.

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2021年10月14日
ISBN13 9783030516123
出版社 Springer Nature Switzerland AG
ページ数 114
寸法 150 × 220 × 10 mm   ·   209 g
言語 ドイツ語  

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