Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics - NanoScience and Technology - - 書籍 - Springer Nature Switzerland AG - 9783030156145 - 2020年8月25日
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Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics - NanoScience and Technology 2019 edition

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The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

408 pages, 60 Tables, color; 230 Illustrations, color; 26 Illustrations, black and white; XX, 408 p.

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2020年8月25日
ISBN13 9783030156145
出版社 Springer Nature Switzerland AG
ページ数 408
寸法 150 × 220 × 10 mm   ·   652 g
言語 ドイツ語  
編集者 Celano, Umberto

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