Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact - Springer Series in Materials Science - Cor Claeys - 書籍 - Springer Nature Switzerland AG - 9783030067472 - 2019年1月30日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact - Springer Series in Materials Science Softcover reprint of the original 1st ed. 2018 edition

価格
¥ 27.345
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年11月5日 - 年11月17日
Cor Claeys の新しいリリースのお知らせを受け取る
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

他の形態でも入手可能:

material science, defect engineering, device processing, defect and device characterization, and device physics and engineering.


438 pages, 207 Illustrations, color; 8 Illustrations, black and white; XXXIII, 438 p. 215 illus., 20

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2019年1月30日
ISBN13 9783030067472
出版社 Springer Nature Switzerland AG
ページ数 438
寸法 232 × 154 × 28 mm   ·   698 g
言語 ドイツ語  

Cor Claeysの他の作品を見る

同じ出版社からのその他の記事