Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors - Electromagnetics and Radar - Jianjun Gao - 書籍 - SciTech Publishing Inc - 9781891121890 - 2010年6月30日
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Jianjun Gao
Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors - Electromagnetics and Radar

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350 pages, illustrations

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2010年6月30日
ISBN13 9781891121890
出版社 SciTech Publishing Inc
ページ数 350
寸法 150 × 220 × 20 mm   ·   589 g
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