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Simulation of Transport in Nanodevices F Dollfus
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Simulation of Transport in Nanodevices
F Dollfus
Linear current-voltage pattern, has been and continues to be the basis for characterizing, evaluating performance, and designing integrated circuits, but is shown not to hold its supremacy as channel lengths are being scaled down.
380 pages
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2016年12月13日 |
| ISBN13 | 9781848215665 |
| 出版社 | ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc |
| ページ数 | 228 |
| 寸法 | 165 × 241 × 28 mm · 717 g |
| 編集者 | Dollfus, Philippe (Center for Nanoscience and Nanotechnology, Orsay, France) |
| 編集者 | Triozon, Francois (CEA-LETI, Grenoble, France) |
