Cross-Layer Reliability of Computing Systems - Materials, Circuits and Devices - Giorgio Di Natale - 書籍 - Institution of Engineering and Technolog - 9781785617973 - 2020年10月22日
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Giorgio Di Natale
Cross-Layer Reliability of Computing Systems - Materials, Circuits and Devices

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This book presents state-of-the-art solutions for increasing the resilience of computing systems, both at single levels of abstraction and multi-layers. It is a valuable resource for researchers, postgraduate students and professional computer architects focusing on the dependability of computing systems.

328 pages

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2020年10月22日
ISBN13 9781785617973
出版社 Institution of Engineering and Technolog
ページ数 328
寸法 156 × 234 × 20 mm   ·   703 g
言語 英語  
編集者 Bosio, Alberto (Full Professor, Ecole Centrale de Lyon - INL, France)
編集者 Canal, Ramon (Associate Professor, Universitat Politecnica de Catalunya-Barcelona Tech (UPC), Facultat d'Informatica de Barcelona, Catalonia, Spain)
編集者 Carlo, Stefano Di (Tenured Associate Professor, Politecnico di Torino, Italy)
編集者 Gizopoulos, Dimitris (Professor, National and Kapodistrian University of Athens, Department of Informatics & Telecommunications, Greece)
編集者 Natale, Giorgio Di (Director of Research, National Research Center of France, TIMA Laboratory, Grenoble, France)

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