Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) - Erni, Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science & Technology (Empa), Switzerland) - 書籍 - Imperial College Press - 9781783265282 - 2015年5月18日
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Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) 第2 版

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Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy provides an introduction to aberration-corrected atomic-resolution electron microscopy imaging in materials and physical sciences.


350 pages

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2015年5月18日
ISBN13 9781783265282
出版社 Imperial College Press
ページ数 432
寸法 160 × 238 × 23 mm   ·   802 g
言語 英語