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Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) Erni, Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science & Technology (Empa), Switzerland) 第2 版
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Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)
Erni, Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science & Technology (Empa), Switzerland)
Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy provides an introduction to aberration-corrected atomic-resolution electron microscopy imaging in materials and physical sciences.
350 pages
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2015年5月18日 |
| ISBN13 | 9781783265282 |
| 出版社 | Imperial College Press |
| ページ数 | 432 |
| 寸法 | 160 × 238 × 23 mm · 802 g |
| 言語 | 英語 |