Nanometrology Using Transmission Electron Microscopy - Vlad Stolojan - 書籍 - Morgan & Claypool Publishers - 9781681740560 - 2015年10月12日
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Vlad Stolojan
Nanometrology Using Transmission Electron Microscopy

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The Transmission Electron Microscope (TEM) is the ultimate tool to see and measure structures on the nanoscale and to probe their elemental composition and electronic structure with sub-nanometer spatial resolution. This book is a practical guide for scientists who need to use the TEM as a tool to answer questions about physical and chemical phenomena on the nanoscale.

85 pages, colour illustrations

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2015年10月12日
ISBN13 9781681740560
出版社 Morgan & Claypool Publishers
ページ数 85
寸法 178 × 256 × 10 mm   ·   136 g
言語 英語  

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