Fred Stevie
Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection Fred Stevie

Name: Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection
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Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection

Fred Stevie

150 pages

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2015年9月15日
ISBN13	9781606505885
出版社	Momentum Press
ページ数	150
寸法	152 × 229 × 16 mm · 390 g
言語	英語