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Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics — 2009: Volume 1156 - MRS Proceedings M Gall
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Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics — 2009: Volume 1156 - MRS Proceedings
M Gall
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
189 pages, illustrations
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2009年11月18日 |
| ISBN13 | 9781605111292 |
| 出版社 | Materials Research Society |
| ページ数 | 204 |
| 寸法 | 160 × 235 × 15 mm · 400 g |
| 言語 | 英語 |
| 編集者 | Gall, Martin |
| 編集者 | Grill, Alfred (IBM T J Watson Research Center, New York) |
| 編集者 | Koike, Junichi (Tohoku University, Japan) |
| 編集者 | Lacopi, Francesca |
| 編集者 | Usui, Takamasa |
