CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings - - 書籍 - Materials Research Society - 9781605111285 - 2009年11月19日
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CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings

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The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

179 pages, illustrations

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2009年11月19日
ISBN13 9781605111285
出版社 Materials Research Society
ページ数 194
寸法 160 × 236 × 18 mm   ·   432 g
言語 英語  
編集者 Butterbaugh, Jeffery W.
編集者 Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin)
編集者 Harris, H. Rusty (Texas A & M University)
編集者 Rachmady, Willy
編集者 Taylor, Bill

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