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Defect and Impurity Engineered Semiconductors and Devices: Volume 378 - MRS Proceedings
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Defect and Impurity Engineered Semiconductors and Devices: Volume 378 - MRS Proceedings
Defect engineering has come of age. That theme is well documented by both the academic and industrial research communities in this book from MRS. Going beyond defect control, the book explores the engineering of desired properties in semiconductor materials and devices through the deliberate introduction and manipulation of defects and impurities.
1054 pages
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 1995年10月16日 |
| ISBN13 | 9781558992818 |
| 出版社 | Materials Research Society |
| ページ数 | 1082 |
| 寸法 | 160 × 237 × 62 mm · 1,70 kg |
| 言語 | 英語 |
| 編集者 | Akasaki, I. (Meijo University, Japan) |
| 編集者 | Ashok, S. (Pennsylvania State University) |
| 編集者 | Chevallier, J. |
| 編集者 | Johnson, N. M. (Xerox Palo Alto Research Center, Stanford University, California) |
| 編集者 | Sopori, B. L. (National Renewable Energy Laboratory, Golden, Colorado) |
