Physical Measurement and Analysis of Thin Films - Progress in Analytical Chemistry - E M Murt - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489959126 - 2013年12月7日
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films - Progress in Analytical Chemistry Softcover reprint of the original 1st ed. 1969 edition

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194 pages, 99 black & white illustrations, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2013年12月7日
ISBN13 9781489959126
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 194
寸法 152 × 229 × 11 mm   ·   285 g
言語 英語  
編集者 Murt, E. M.

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