B.K. Tanner
Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods - NATO Science Series B B.K. Tanner Softcover reprint of the original 1st ed. 1980 edition

Name: Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods - NATO Science Series B
Price: 8560 JPY
Availability: OutOfStock
Author: B.K. Tanner

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Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods - NATO Science Series B

B.K. Tanner

Softcover reprint of the original 1st ed. 1980 edition

This book contains the proceedings of a NATO Advanced Study Institute entitled "Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods' held in the University of Durham, England from 29th August to 10th September 1979.

589 pages, 556 black & white illustrations, biography

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2012年12月16日
ISBN13	9781475711288
出版社	Springer-Verlag New York Inc.
ページ数	589
寸法	178 × 254 × 31 mm · 1,05 kg
言語	英語