Point and Extended Defects in Semiconductors - NATO Science Series B - Giorgio Benedek - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781468457117 - 2013年4月16日
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Point and Extended Defects in Semiconductors - NATO Science Series B Softcover reprint of the original 1st ed. 1989 edition

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The systematic study of defects in semiconductors began in the early fifties. Most participants are currently working on defect problems in either silicon submicron technology or in quantum wells and superlattices, where point defects, dislocations, interfaces and surfaces are closely packed together.


300 pages, black & white illustrations

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2013年4月16日
ISBN13 9781468457117
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 287
寸法 178 × 254 × 15 mm   ·   521 g
言語 英語  
編集者 Benedek, Giorgio

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