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Point and Extended Defects in Semiconductors - NATO Science Series B Giorgio Benedek Softcover reprint of the original 1st ed. 1989 edition
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Point and Extended Defects in Semiconductors - NATO Science Series B
Giorgio Benedek
The systematic study of defects in semiconductors began in the early fifties. Most participants are currently working on defect problems in either silicon submicron technology or in quantum wells and superlattices, where point defects, dislocations, interfaces and surfaces are closely packed together.
300 pages, black & white illustrations
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2013年4月16日 |
| ISBN13 | 9781468457117 |
| 出版社 | Springer-Verlag New York Inc. |
| ページ数 | 287 |
| 寸法 | 178 × 254 × 15 mm · 521 g |
| 言語 | 英語 |
| 編集者 | Benedek, Giorgio |