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X-ray Line Profile Analysis in Materials Science (Research Essentials) Jen Gubicza 第1 版
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X-ray Line Profile Analysis in Materials Science (Research Essentials)
Jen Gubicza
X-ray line profile analysis is an effective and non-destructive method for the characterization of the microstructure in crystalline materials. Supporting research in the area of x-ray line profile analysis is necessary in promoting further developments in this field.
X-Ray Line Profile Analysis in Materials Science aims to synthesize the existing knowledge of the theory, methodology, and applications of x-ray line profile analysis in real-world settings. This publication presents both the theoretical background and practical implementation of x-ray line profile analysis and serves as a reference source for engineers in various disciplines as well as scholars and upper-level students.
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2014年3月31日 |
| ISBN13 | 9781466658523 |
| 出版社 | IGI Global |
| ページ数 | 359 |
| 寸法 | 21 × 178 × 254 mm · 810 g |
| 言語 | 英語 |
| 寄稿者 | Jen Gubicza |
