Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 - Otto Meyer - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461588818 - 2012年1月30日
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Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition

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The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.


508 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2012年1月30日
ISBN13 9781461588818
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 491
寸法 178 × 254 × 26 mm   ·   879 g
言語 英語  
編集者 Meyer, Otto

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