David C. Joy
Helium Ion Microscopy: Principles and Applications - SpringerBriefs in Materials David C. Joy 2013 edition

Name: Helium Ion Microscopy: Principles and Applications - SpringerBriefs in Materials
Price: 10534 JPY
Availability: OutOfStock
Author: David C. Joy

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Helium Ion Microscopy: Principles and Applications - SpringerBriefs in Materials

David C. Joy

2013 edition

Helium Ion Microscopy: Principles and Applications describes the theory and discusses the practical details of why scanning microscopes using beams of light ions - such as the Helium Ion Microscope (HIM) - are destined to become the imaging tools of choice for the 21st century.

72 pages, 13 black & white illustrations, 16 colour illustrations, 2 black & white tables, biography

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2013年9月14日
ISBN13	9781461486596
出版社	Springer-Verlag New York Inc.
ページ数	64
寸法	155 × 235 × 8 mm · 158 g
言語	英語