Quantitative X-Ray Diffractometry - Lev S. Zevin - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461395379 - 2011年12月27日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Lev S. Zevin
Quantitative X-Ray Diffractometry Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 edition

価格
¥ 17.026
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年6月8日 - 年6月18日

お客様の声：

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー
Trustpilotで高評価
iMusicのウィッシュリストに追加

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases.

398 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2011年12月27日
ISBN13 9781461395379
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 372
寸法 170 × 244 × 20 mm   ·   630 g
言語 英語  
編集者 Mureinik, Inez

Lev S. Zevinのすべてを見る ( 例： Paperback Book )