Hisham Haddara
Characterization Methods for Submicron MOSFETs - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Hisham Haddara Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 edition

Name: Characterization Methods for Submicron MOSFETs - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Author: Hisham Haddara

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Characterization Methods for Submicron MOSFETs - The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Hisham Haddara

Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 edition

The need for more deep and extensive characterization of MOSFET param eters has further increased as the applications of this device have gained ground in many new fields in which its performance has become more and more sensi tive to the properties of its Si - Si0 interface.

232 pages, biography

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2011年9月26日
ISBN13	9781461285847
出版社	Springer-Verlag New York Inc.
ページ数	232
寸法	155 × 235 × 13 mm · 358 g
言語	英語
編集者	Haddara, Hisham