Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability - Frontiers in Electronic Testing - Mohammad Tehranipoor - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441945136 - 2010年11月23日
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Mohammad Tehranipoor
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

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Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes.

422 pages, black & white illustrations

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2010年11月23日
ISBN13 9781441945136
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 408
寸法 155 × 235 × 21 mm   ·   589 g
言語 英語  
編集者 Tehranipoor, Mohammad

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