Sequential Analysis: Tests and Confidence Intervals - Springer Series in Statistics - David Siegmund - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441930750 - 2010年12月1日
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Sequential Analysis: Tests and Confidence Intervals - Springer Series in Statistics Softcover reprint of hardcover 1st ed. 1985 edition

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The modern theory of Sequential Analysis came into existence simultaneously in the United States and Great Britain in response to demands for more efficient sampling inspection procedures during World War II.


285 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2010年12月1日
ISBN13 9781441930750
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 274
寸法 155 × 235 × 15 mm   ·   408 g
言語 英語  

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