Characterization of Nanostructures - Myhra, Sverre (Oxford University, Yarnton, UK) - 書籍 - Taylor & Francis Inc - 9781439854150 - 2012年6月12日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Myhra, Sverre (Oxford University, Yarnton, UK)
Characterization of Nanostructures 第1 版

価格
¥ 47.102
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年11月17日 - 年12月3日
クリスマスプレゼントは1月31日まで返品可能です
Myhra, Sverre (Oxford University, Yarnton, UK) の新しいリリースのお知らせを受け取る

お客様の声：

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー
Trustpilotで高評価
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

他の形態でも入手可能：

Providing an overview of the physical principles of various methods, this book explores how techniques can be brought to bear together on the interrogation of nanotechnology systems of great current interest. The authors focus on the needs in the research laboratory but also address the needs of quality control.

334 pages, 228 black & white illustrations, 25 colour illustrations, 16 black & white tables

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2012年6月12日
ISBN13 9781439854150
出版社 Taylor & Francis Inc
ページ数 350
寸法 157 × 240 × 24 mm   ·   658 g
言語 英語  

同じ出版社からのその他の記事

Myhra, Sverre (Oxford University, Yarnton, UK)のすべてを見る