Andrei Pavlov
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test - Frontiers in Electronic Testing Andrei Pavlov 2008 edition

Name: CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test - Frontiers in Electronic Testing
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Author: Andrei Pavlov

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Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

(2010) ¥ 26.046

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test - Frontiers in Electronic Testing

Andrei Pavlov

2008 edition

The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design considerations to the growing process variations with associated test issues. Purpose: provide process-aware solutions for SRAM design and test challenges.

210 pages, biography

メディア	書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本)
リリース済み	2008年6月21日
ISBN13	9781402083624
出版社	Springer-Verlag New York Inc.
ページ数	194
寸法	166 × 239 × 19 mm · 476 g
言語	英語