Image-Based Fractal Description of Microstructures - J.M. Li - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402075070 - 2003年7月31日
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J.M. Li
Image-Based Fractal Description of Microstructures 2003 edition

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Fractal analysis has rapidly become an important field in materials science and engineering with broad applications to theoretical analysis and quantitative description of microstructures of materials. Fractal measurement, error analysis and fractal description of cluster growth, thin films and surfaces are emphasized in this book.

272 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2003年7月31日
ISBN13 9781402075070
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 272
寸法 155 × 235 × 17 mm   ·   616 g
言語 英語  

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