High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-test - Frontiers in Electronic Testing - R. Dean Adams - 書籍 - Kluwer Academic Publishers - 9781402072550 - 2002年9月30日
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R. Dean Adams
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-test - Frontiers in Electronic Testing 2002 edition

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Memory applications and the number of designs and the sheer number of bits on each design are critical. Based on the author's experience in memory design, memory reliability development and memory self test, this book is written for professionals and researchers, helping them understand the memories that are tested.

250 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2002年9月30日
ISBN13 9781402072550
出版社 Kluwer Academic Publishers
ページ数 250
寸法 156 × 234 × 15 mm   ·   562 g
言語 英語  

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