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Emotional and Cognitive Overload: The Dark Side of Information Technology 第1 版
Rutkowski, Anne-Francoise (Tilburg University, The Netherlands)
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Emotional and Cognitive Overload: The Dark Side of Information Technology
Rutkowski, Anne-Francoise (Tilburg University, The Netherlands)
In this important new book, the idea of brain overload is defined and explored, from its impact on our decision-making and memory, to how we may cope with the resultant ‘technostress’. Supported by case studies and also exploring the idea of ‘IT addiction’.
170 pages, 5 Line drawings, black and white; 3 Tables, black and white; 5 Illustrations, black and w
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2018年9月7日 |
| ISBN13 | 9781138053359 |
| 出版社 | Taylor & Francis Ltd |
| ページ数 | 170 |
| 寸法 | 234 × 156 × 16 mm · 280 g |
| 言語 | 英語 |