Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems - Quality and Reliability Engineering Series - Kirk A. Gray - 書籍 - John Wiley & Sons Inc - 9781118700235 - 2016年5月23日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Kirk A. Gray
Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems - Quality and Reliability Engineering Series 第1 版

価格
¥ 19.827
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年11月26日 - 年12月14日
クリスマスプレゼントは1月31日まで返品可能です
Kirk A. Gray の新しいリリースのお知らせを受け取る

お客様の声：

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー
Trustpilotで高評価
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

Next Generation HALT and HASS presents a major paradigm shift from reliability prediction-based methods to discovery of electronic systems reliability risks.

300 pages

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2016年5月23日
ISBN13 9781118700235
出版社 John Wiley & Sons Inc
ページ数 296
寸法 236 × 161 × 19 mm   ·   498 g
言語 英語  

同じ出版社からのその他の記事

Kirk A. Grayのすべてを見る