Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices - Paul Van Der Heide - 書籍 - John Wiley & Sons Inc - 9781118480489 - 2014年9月15日
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Paul Van Der Heide
Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices 第1 版

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This book serves as a practical reference for anyone involved in any form of Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS). This is presented in a concise yet comprehensive manner to those wanting to know more about the technique in general as opposed to advanced sample specific procedures/applications.

384 pages, illustrations

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2014年9月15日
ISBN13 9781118480489
出版社 John Wiley & Sons Inc
ページ数 384
寸法 160 × 243 × 24 mm   ·   657 g
言語 英語  

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