Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-K Dielectrics — 2004 - MRS Proceedings

Name: Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-K Dielectrics — 2004 - MRS Proceedings
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Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-K Dielectrics — 2004 - MRS Proceedings

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

422 pages, black & white illustrations

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2014年6月5日
ISBN13	9781107409224
出版社	Cambridge University Press
ページ数	422
寸法	152 × 229 × 22 mm · 668 g (重量（概算）)
言語	英語
編集者	Carter, R. J.
編集者	Hau-Riege, C. S.
編集者	Kloster, G. m.
編集者	Lu, T. -M. (Rensselaer Polytechnic Institute, New York)
編集者	Schulz, S. E.