CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings - - 書籍 - Cambridge University Press - 9781107408326 - 2014年6月5日
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CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings

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The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

194 pages, black & white illustrations

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2014年6月5日
ISBN13 9781107408326
出版社 Cambridge University Press
ページ数 194
寸法 152 × 229 × 10 mm   ·   412 g   (重量（概算）)
言語 英語  
編集者 Butterbaugh, Jeffery W.
編集者 Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin)
編集者 Harris, H. Rusty (Texas A & M University)
編集者 Rachmady, Willy
編集者 Taylor, Bill

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