Martin Gall
Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics — 2009: Volume 1156 - MRS Proceedings Martin Gall

Name: Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics — 2009: Volume 1156 - MRS Proceedings
Price: 7254 JPY
Availability: OutOfStock
Author: Martin Gall

価格

¥ 7.254

税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日年9月24日 - 年10月12日

Martin Gall の新しいリリースのお知らせを受け取る

お客様の声：

Top-vurdering på Google Reviews, baseret på tusinder af anmeldelser.

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー

Trustpilotで高評価

iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics — 2009: Volume 1156 - MRS Proceedings

Martin Gall

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

204 pages, black & white illustrations

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2014年6月5日
ISBN13	9781107408319
出版社	Cambridge University Press
ページ数	204
寸法	152 × 229 × 11 mm · 433 g (重量（概算）)
言語	英語
編集者	Gall, Martin
編集者	Grill, Alfred (IBM T J Watson Research Center, New York)
編集者	Koike, Junichi (Tohoku University, Japan)
編集者	Lacopi, Francesca
編集者	Usui, Takamasa