George W. Zobrist
VLSI Fault Modeling and Testing Techniques George W. Zobrist

Name: VLSI Fault Modeling and Testing Techniques
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Author: George W. Zobrist

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VLSI Fault Modeling and Testing Techniques

George W. Zobrist

This text explores VLSI fault modelling and testing techniques and covers such topics as: physical fault modelling and simulation for VSLI MOS circuits; designing CMOS gates to test open faults; testing bridging faults in VLSI; and testable design synthesis models.

208 pages, 1, black & white illustrations

メディア	書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本)
リリース済み	1993年5月1日
ISBN13	9780893917814
出版社	Bloomsbury Publishing Plc
ページ数	200
寸法	160 × 230 × 17 mm · 412 g
言語	英語
編集者	Zobrist, George W.