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Microelectronic Reliability: Integrity a Emiliano Pollino
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Microelectronic Reliability: Integrity a
Emiliano Pollino
A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi
556 pages, 1, black & white illustrations
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 1989年4月1日 |
| ISBN13 | 9780890063507 |
| 出版社 | Artech House Publishers |
| ページ数 | 556 |
| 寸法 | 161 × 235 × 41 mm · 1,09 kg |
| 編集者 | Pollino, Emiliano |