Microelectronic Reliability Vol. I: Test - Edward B. Hakim - 書籍 - Artech House Publishers - 9780890062845 - 1989年1月31日
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Edward B. Hakim
Microelectronic Reliability Vol. I: Test

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Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought

396 pages, 1, black & white illustrations

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 1989年1月31日
ISBN13 9780890062845
出版社 Artech House Publishers
ページ数 396
寸法 161 × 238 × 30 mm   ·   771 g
編集者 Hakim, Edward B.

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