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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography D.K. Bowen 第1 版
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
D.K. Bowen
The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining these materials. This book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research. It provides the background for applying these techniques.
264 pages, black & white illustrations
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 1998年2月5日 |
| ISBN13 | 9780850667585 |
| 出版社 | Taylor & Francis Ltd |
| ページ数 | 262 |
| 寸法 | 178 × 263 × 20 mm · 656 g |
| 言語 | 英語 |
