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Particles on Surfaces: Detection: Adhesion, and Removal 第1 版
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Particles on Surfaces: Detection: Adhesion, and Removal
Includes the proceedings of the Fourth Symposium on Particles on Surfaces. This title includes papers that cover: adhesion-induced deformations of particles on surfaces; the use of atomic force microscopy in probing particle-particle adhesion; and, particle contamination in microelectronics, on spacecraft, and on optical surfaces.
440 pages
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 1994年12月16日 |
| ISBN13 | 9780824795351 |
| 出版社 | Taylor & Francis Inc |
| ページ数 | 438 |
| 寸法 | 150 × 220 × 20 mm · 970 g |
| 言語 | 英語 |
| 編集者 | Mittal, K.L. (Hopewell Junction, New York, USA) |
