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Speckle Metrology - Optical Science and Engineering Sirohi 第1 版
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Speckle Metrology - Optical Science and Engineering
Sirohi
Covers speckle metrology and its value as a measuring technique in industry. This book also surveys the origin of speckle displacement and decorrelation, presents procedures for deformation analysis and shape measurement of rough objects, and explains particle image velocimetry (PIV).
568 pages
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 1993年5月20日 |
| ISBN13 | 9780824789329 |
| 出版社 | Taylor & Francis Inc |
| ページ数 | 572 |
| 寸法 | 150 × 220 × 20 mm · 861 g |
| 言語 | 英語 |
| シリーズ編集者 | Thompson, Brian J. (University of Rochester, New York, USA) |
