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Sampling, Wavelets, and Tomography - Applied and Numerical Harmonic Analysis John J Benedetto 2004 edition
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Sampling, Wavelets, and Tomography - Applied and Numerical Harmonic Analysis
John J Benedetto
Sampling, wavelets, and tomography are three areas of contemporary mathematics sharing common roots that lie at the heart of harmonic and Fourier analysis. Aimed at mathematicians, scientists, and engineers working in signal and image processing and medical imaging, this work is accessible to an audience with diverse mathematical backgrounds.
344 pages, biography
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2003年12月10日 |
| ISBN13 | 9780817643041 |
| 出版社 | Birkhauser Boston Inc |
| ページ数 | 344 |
| 寸法 | 155 × 235 × 22 mm · 625 g |
| 言語 | 英語 |
| 編集者 | Benedetto, John J. |
| 編集者 | Zayed, Ahmed I. |