Sampling, Wavelets, and Tomography - Applied and Numerical Harmonic Analysis - John J Benedetto - 書籍 - Birkhauser Boston Inc - 9780817643041 - 2003年12月10日
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Sampling, Wavelets, and Tomography - Applied and Numerical Harmonic Analysis 2004 edition

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Sampling, wavelets, and tomography are three areas of contemporary mathematics sharing common roots that lie at the heart of harmonic and Fourier analysis. Aimed at mathematicians, scientists, and engineers working in signal and image processing and medical imaging, this work is accessible to an audience with diverse mathematical backgrounds.


344 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2003年12月10日
ISBN13 9780817643041
出版社 Birkhauser Boston Inc
ページ数 344
寸法 155 × 235 × 22 mm   ·   625 g
言語 英語  
編集者 Benedetto, John J.
編集者 Zayed, Ahmed I.

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