Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing - Yervant Zorian - 書籍 - Kluwer Academic Publishers - 9780792399209 - 1997年5月31日
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Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Reprinted from Journal of Electronic Testing, 10:1 edition

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This volume of research presents updated test strategies for MCMs. It is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers seeking current test and design-for-testability solutions for their next designs.


167 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 1997年5月31日
ISBN13 9780792399209
出版社 Kluwer Academic Publishers
ページ数 167
寸法 203 × 254 × 11 mm   ·   535 g
言語 英語  
編集者 Zorian, Yervant

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