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Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Yervant Zorian Reprinted from Journal of Electronic Testing, 10:1 edition
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Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing
Yervant Zorian
This volume of research presents updated test strategies for MCMs. It is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers seeking current test and design-for-testability solutions for their next designs.
167 pages, biography
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 1997年5月31日 |
| ISBN13 | 9780792399209 |
| 出版社 | Kluwer Academic Publishers |
| ページ数 | 167 |
| 寸法 | 203 × 254 × 11 mm · 535 g |
| 言語 | 英語 |
| 編集者 | Zorian, Yervant |