Semiconductor Device Reliability - Nato Science Series E: - Nato Advanced Research Workshop on Semiconductor Device Reliability - 書籍 - Springer - 9780792305361 - 1989年12月31日
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Nato Advanced Research Workshop on Semiconductor Device Reliability
Semiconductor Device Reliability - Nato Science Series E: 1990 edition

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Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop, Heraklion, Crete, Greece, June 4-9, 1989

575 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 1989年12月31日
ISBN13 9780792305361
出版社 Springer
ページ数 575
寸法 156 × 234 × 31 mm   ·   997 g
言語 英語  
編集者 Christou, A.
編集者 Unger, B.A.

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