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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability Ashok K. Sharma
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Ashok K. Sharma
Provides in depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods, including: memory cell structures and fabrication technologies; application specific memories and architectures; and memory design, fault modeling and test algorithms, limitations, and trade offs.
480 pages, illustrations
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2002年9月10日 |
| ISBN13 | 9780780310001 |
| 出版社 | John Wiley & Sons Inc |
| ページ数 | 480 |
| 寸法 | 183 × 257 × 33 mm · 1,06 kg |
