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VLSI Test Symposium (VTS 2004)

The proceedings of the 21st IEEE VLSI test symposium (VTS (2003) describing innovations in the testing of integrated circuits and systems.

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2004
ISBN13	9780769521343
出版社	IEEE Computer Society Press,U.S.
ページ数	550
寸法	150 × 220 × 10 mm · 911 g (重量（概算）)
言語	英語