2000 European Test Workshop (Etw) IEEE Postproceed - Ieee - 書籍 - IEEE Computer Society Press,U.S. - 9780769507019 - 2000年11月1日
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Ieee
2000 European Test Workshop (Etw) IEEE Postproceed

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The 25 papers cover delay testing and test scheduling, scan and functional testing, system testing, quiescent current testing, analog and mixed-signal testing, core-based testing, fault simulation and field programmable gate array testing, challenges in deep sub-micron testing, high level tests, mem

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2000年11月1日
ISBN13 9780769507019
出版社 IEEE Computer Society Press,U.S.
ページ数 181
寸法 216 × 273 × 13 mm   ·   650 g   (重量（概算）)
言語 英語  

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