Electron Microscopy and Analysis - Peter J. Goodhew - 書籍 - Taylor & Francis Ltd - 9780748409686 - 2000年11月30日
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Electron Microscopy and Analysis 第3 版

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¥ 20.068
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A guide to scanning and transmission microscopes and to the analytical techniques based on them. It covers the techniques of electron energy loss spectroscopy and energy dispersive X-ray analysis. It compares electron microscopic techniques to many of the competing physical investigative techniques available.


254 pages, 147 colour illustrations

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2000年11月30日
ISBN13 9780748409686
出版社 Taylor & Francis Ltd
ページ数 264
寸法 236 × 157 × 16 mm   ·   420 g
言語 英語  

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