Reflection High-Energy Electron Diffraction - Ichimiya, Ayahiko (Nagoya University, Japan) - 書籍 - Cambridge University Press - 9780521184021 - 2011年2月17日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Reflection High-Energy Electron Diffraction

価格
¥ 13.484
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年11月23日 - 年12月9日
クリスマスプレゼントは1月31日まで返品可能です
Ichimiya, Ayahiko (Nagoya University, Japan) の新しいリリースのお知らせを受け取る
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

他の形態でも入手可能:

Reflection high-energy electron diffraction (RHEED) is the analytical tool of choice for characterizing thin films during growth by molecular beam epitaxy, since it is very sensitive to surface structure and morphology. This book serves as an introduction to RHEED and describes detailed experimental and theoretical treatments for experts.


366 pages, black & white illustrations

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2011年2月17日
ISBN13 9780521184021
出版社 Cambridge University Press
ページ数 366
寸法 171 × 245 × 20 mm   ·   636 g
言語 英語  

同じ出版社からのその他の記事