Failure Mechanisms in Semiconductor Devices - Amerasekera, E. Ajith (Texas Instruments Inc.) - 書籍 - John Wiley & Sons Inc - 9780471954828 - 1997年8月11日
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Amerasekera, E. Ajith (Texas Instruments Inc.)
Failure Mechanisms in Semiconductor Devices 第2 版

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In this second edition, the authors identify the sources of failure mechanism in semiconductor devices, examine possible detection and elimination techniques, and determine the effectiveness of reliability devices. The references have been updated and recent advances are discussed.

358 pages, Illustrations

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 1997年8月11日
ISBN13 9780471954828
出版社 John Wiley & Sons Inc
ページ数 360
寸法 156 × 233 × 25 mm   ·   616 g
言語 英語  

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